多项选择题

A.对陶瓷样品进行物相分析,在收集粉末X-射线衍射数据的时候,不破坏陶瓷样品,直接对陶瓷样品进行X-射线衍射实验。
B.利用透射电镜对磁性样品进行透射电子显微分析。
C.待分析样品是绝缘体,样品没有镀上一层导电层,直接对样品进行扫描电镜分析。
D.与其利用粉末X-射线衍射峰的宽度来估算材料晶粒大小,还不如利用扫描电镜或者透射电镜来直接观察材料晶粒大小。