单项选择题 与胶片射线照相比较，荧光屏成像的优点是（）。

单项选择题 芯片与探测面平行，使超声波垂直与探测进入材料的检验方法称为（）。

单项选择题 射线源的尺寸过大，采用（）方法弥补。