判断题 一般工件厚度较小时，选用较大的K值，以便增加一次波的声程，避免近场区探伤。

判断题 按照尽可能声束与缺陷垂直的原则，选择探头主要考虑所测试件的结构和厚度。

判断题 探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量大，探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。