判断题 X-射线衍射分析通常用于测定岩样中粒径小于10µm的黏土矿物和粒径大于6µm的非黏土矿物，尤其适于确定岩样中各种黏土矿物的类型和含量。

判断题 薄片分析技术主要用于测定油藏岩石中骨架颗粒、基质和胶结物的组成和分布，描述孔隙的类型、性质及成因，了解敏感性矿物的分布及其对油气层可能引起的损害。

判断题 薄片分析结果有助于对测井资料进行校正。