问答题
为何用SEM分析非导电样品前要对它进行喷金或喷碳处理？如何利用SEM分析材料内部结构？
由于进入和离开样品的电子数量不平衡，电子在样品表面积聚产生放电现象，影响二次电子成像和背散射电子成像的效果，因此在SEM......
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问答题 特征X射线是如何产生的？利用特征X射线能得到样品哪些信息？
问答题 二次电子和背散射电子是如何产生的？它们的产率主要与什么因素有关？二次电子像和背散射电子像分别反映样品什么信息？
问答题 用红外光谱法、拉曼光谱法、核磁共振波谱法和裂解气相色谱－质谱联用分析法分析高分子链结构各得到哪些信息？
