单项选择题

A.内部缺陷处的漏磁通,比同样大小的表面缺陷为大
B.缺陷的漏磁通通常同试件上的磁通密度成反比
C.表面缺陷的漏磁通密度,随着离开表面距离的增加而急剧减弱
D.用有限线圈磁化长的试件,不需进行分段磁化