多项选择题
垂直法探伤时，对要求不太高的工件常采用局部法进行扫查，局部法扫查一般分为（）。
A.纵向扫查B.直线扫查C.横向扫查D.格子扫查E.点扫查
多项选择题 在横波探伤中，探头K值对探伤（）有较大的影响。
多项选择题 探伤中探头晶片尺寸增加，相应的（）对探伤有利。
多项选择题 超声波探伤探头的型式一般有（）等。
