问答题
TEM图像的质厚衬度和衍射衬度是如何形成的，分别适合分析哪类材料？
质厚衬度是由于样品不同区域的厚度或/和原子序数差异产生的衬度，适用于对非晶材料的分析。衍射衬度是当电子束入射到样品中结晶......
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问答题 为何用SEM分析非导电样品前要对它进行喷金或喷碳处理？如何利用SEM分析材料内部结构？
问答题 特征X射线是如何产生的？利用特征X射线能得到样品哪些信息？
问答题 二次电子和背散射电子是如何产生的？它们的产率主要与什么因素有关？二次电子像和背散射电子像分别反映样品什么信息？
