多项选择题
对于CMOS晶体管,要得到良好受控的阈值电压,需要控制()等工艺参数。
A.氧化层厚度; B.沟道中掺杂浓度; C.金属半导体功函数; D.氧化层电荷。
单项选择题 离子注入过程是一个非平衡过程,高能离子进入靶后不断与原子核及其核外电子碰撞,逐步损失能量,最后停下来。停下来的位置是随机的,大部分不在晶格上,因而没有()。
单项选择题 杂质在硅晶体中的扩散机制主要有两种,分别是间隙式扩散机制和替代式扩散机制。杂质只有在成为硅晶格结构的一部分,即(),才有助于形成半导体硅。
单项选择题 刻蚀是用化学方法或物理方法有选择地从硅片表面去除不需要材料的工艺过程,其基本目标是()。