问答题
扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM）的工作原理有何不同？它们分别适合分析哪类样品？
STM是利用探针针尖与样品表面之间形成的隧道电流来观察样品表面形貌，而AFM是利用探针针尖与样品表面之间产生的相互作用力......
(↓↓↓ 点击下方‘点击查看答案’看完整答案 ↓↓↓)
问答题 如何制备满足TEM分析要求的聚合物样品，正染色和负染色的区别何在？负染色通常适合分析哪类聚合物材料？
问答题 TEM图像的质厚衬度和衍射衬度是如何形成的，分别适合分析哪类材料？
问答题 为何用SEM分析非导电样品前要对它进行喷金或喷碳处理？如何利用SEM分析材料内部结构？
